
Adresse courriel : jean-luc [dot] autran [at] univ-rennes [dot] fr
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Thématiques de recherche
- Physique des évènements singuliers en microélectronique : interactions particules-semi-conducteurs (neutrons, muons, protons, particules alpha, ions lourds), transport et collection des charges induites par les radiations dans les matériaux semi-conducteurs (diffusion-collection, random walk drift-diffusion, diffusion ambipolaire), simulation numérique, modélisation analytique.
- Effets des radiations sur les dispositifs et circuits microélectroniques : diodes, transistors, cellules mémoires, imageurs (CMOS, CCD), logique combinatoire et séquentielle, évaluation du SER (Soft Error Rate) au niveau circuit
- Environnements radiatifs naturels et artificiels : rayonnement atmosphérique, ultra-traces d'impuretés telluriques, environnements spécifiques (neutrons de fission, neutrons de fusion, accélérateurs)
- Spectroscopie des muons atmosphériques de basse énergie (< 1 GeV)
- Spectroscopie des particules alpha (émissivité alpha des matériaux)
- Détection du radon et ses effets sur les matériaux et composants électroniques
Articles à comité de lecture
Proceedings, chapitres de livre
Ouvrage publié
Soft Errors: from particles to circuits J.L. Autran, D. Munteanu 439 Pages, 220 illustrations Publié le 6 mars 2015 CRC Press, Taylor & Francis Group |